ÚFI/Výzkum/Odbor optiky a přesné mechaniky/Zkonstruovaná zařízení     

Zařízení zkonstruovaná v našem odboru - funkční vzory, prototypy

Rok 2008

Scattermeter - přístroj k měření rozptylu laserového světla z povrchu pevných těles

Autoři: M. Ohlídal, V. Gründling, R. Malina, M. Petrilak, M. Antoš

Zařízení umožňuje měřit i výrazně anizotropní úhlové rozdělení intenzity laserového světla rozptýleného z libovolných povrchů pevných těles. Nastavitelné polohy jeho jednotlivých mechanických částí umožňují měřit rozptyl světla na studovaném povrchu při jeho různých orientacích vůči dopadajícímu laserovému svazku s krokem daným přijímacím úhlem, která je použita jako detektor intenzity rozptýleného světla. Pohyb příslušných mechanických částí je řízen počítačem. Výstupní signál fotodiody je digitalizován vhodně navrženým AD převodníkem a zpracováván speciálně vyvinutým software.

Celkový pohled na scattermeter bez horní časti světlotěsného krytu.

Rok 2010

Zařízení pro měření úhlového rozdělení intenzity elektromagnetického záření rozptýleného na površích pevných těles v infračervené a viditelné oblasti spektra - scattermeter SM II

Autoři: M. Ohlídal, R. Malina, M. Petrilak, V. Gründling

Zařízení umožňuje měřit i výrazně anizotropní úhlové rozdělení intenzity elektro-magnetického záření rozptýleného z libovolných povrchů pevných těles v infračervené a viditelné spektrální oblasti. Ve srovnání s předchozí verzí scattermeteru vykazuje SM II řadu funkčních zlepšení (jednodušší konstrukce vedoucí k preciznějšímu měření, nová řídící jednotka pro ovládání pohybu mechanických částí SM II a vyčítání hodnot intenzity rozptýleného záření z detektoru.) i rozšíření možností aplikace. Je možné studovat rozptyl elektromagnetických vln nejen na povrchu pevných těles, ale v případně vhodného materiálu (např. Si) i na strukturách v objemu studovaného tělesa.

Snímek scattermeteru SM II – celkový pohled